GB/T 1410-2006 固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法（IEC 60093:1980，IDT）
機(jī)械法單層法原理，根據(jù)ISO 4593:1993用精密千分尺或立式光學(xué)計(jì)或其他儀器測量單張?jiān)嚇拥暮穸取?br /> 方法B適用于較寬的薄膜大于或等于150mm，其變形主要表現(xiàn)為凹陷。對于很厚的薄膜，由于其變形主要表現(xiàn)為凹陷。
JB/T 3283-1999 固體絕緣材料相對耐表面放電擊穿性能試驗(yàn)方法（eqv IEC 60343:1991）
IEC 60260:1968 非注入式恒定相對濕度試驗(yàn)箱
從而會(huì)出現(xiàn)**總平面的凹陷部分，規(guī)定兩種方法測量變形：方法A適用于窄的薄膜小于150mm，其變形主要表現(xiàn)為偏移/弧形；
相對濕度50%±5%的條件下至少放置24h，取好的試樣應(yīng)在該條件下處理1h。試驗(yàn)條件除非產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)或本部分中個(gè)別試驗(yàn)另有規(guī)定外。
根據(jù)測定的質(zhì)量、面積和密度計(jì)算樣品的厚度，測量儀器分析天平感量0.1mg，鋼板尺分度值0.5mm。
取其平均值作為試驗(yàn)結(jié)果，并報(bào)告**值和**小值。重量法（質(zhì)量密度法）原理按ISO4591:1991中的部分。
ISO 4592:1992 塑料 薄膜和薄板 長度和寬度的測定
測量儀器薄膜厚度小于100μm時(shí)，用立式光學(xué)計(jì)或其他合適的測厚儀測量。采用直徑為2mm的平面測帽或曲率半徑為25mm~50mm的球面測帽。
精度不**0.2μm，薄膜厚度大于等于15μm但小于100μm時(shí)，精度不**1μm；薄膜厚度大于或等于100μm，精度不**2μm。
IEC 61074:1991 用差示掃描量熱法測定電氣絕緣材料熔融熱、熔點(diǎn)及結(jié)晶熱、結(jié)晶溫度的試驗(yàn)方法
并沿薄膜樣條的長度方向纏繞于潔凈的樣板推薦尺寸為：250mm×200mm。其中200mm為板的長度方向尺寸。
并報(bào)告**值和**小值，疊層法測量儀器千分尺：精度為1μm，直徑為6mm的平面測帽，測力為6N~10N。
試驗(yàn)應(yīng)在溫度23℃±2℃、相對濕度50%±5%、環(huán)境潔凈度不大于10000級的條件下進(jìn)行。厚度應(yīng)按產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)要求采用下列規(guī)定中的一種或幾種方法進(jìn)行測定。
按ISO 4593:1993的要求，測量試樣的厚度。在試樣上等距離共測量27點(diǎn)，兩測量點(diǎn)間距不少于50mm。
GB/T 1033.1-2008 塑料 非泡沫塑料密度的測定 部分：浸漬法、液體比重瓶法和滴定法（ISO 1183-1:2004，IDT）
沿樣品寬度方向切取三條約100mm寬的薄膜當(dāng)膜卷寬度小于400mm時(shí)，可適當(dāng)多取幾條，試樣不應(yīng)有皺折或其他缺陷。
GB/T 7196-1987 用液體萃取測定電氣絕緣材料離子雜質(zhì)的試驗(yàn)方法（eqv IEC 60680:1977）
測量壓力為0.5N~1N，薄膜厚度大于或等于100μm時(shí)，可用千分尺測量。儀器精度要求：薄膜厚度小于15μm時(shí)。
GB/T 13542 的本部分規(guī)定了電氣絕緣用薄膜的試驗(yàn)方法，適用于電氣絕緣和薄膜。
GB/T 11026.1-2003 電氣絕緣材料 耐熱性 部分：老化程序和試驗(yàn)結(jié)果的評定（IEC60216-1:2001，IDT）
h——試樣的厚度，單位為微米（μm）；m——試樣的質(zhì)量，單位為克（g）；s——試樣的面積，單位為平方厘米（cm2）；
d——試樣的實(shí)測密度，單位為克每立方厘米（g/cm3）。取三個(gè)計(jì)算值的中值作為試驗(yàn)結(jié)果，結(jié)果取三位有效數(shù)字。
GB/T 10582-2008 電氣絕緣材料 測定因絕緣材料引起的電解腐蝕的試驗(yàn)方法（IEC 60426:2007，IDT）
這兩種變形是：偏移/弧形：薄膜平整地展開時(shí)，其邊緣不呈直線；凹陷：薄膜的局部面積因受拉伸。
GB/T 11999-1989 塑料薄膜和薄片耐撕裂性試驗(yàn)方法 埃萊門多夫法（eqv ISO 6383-2:1983）
并按性能要求進(jìn)行制樣，預(yù)處理?xiàng)l件除非產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)或本部分中個(gè)別試驗(yàn)另有規(guī)定外，取樣前樣品薄膜卷應(yīng)在23℃±2℃。
測量在薄膜卷上取三片長方形試樣，每片質(zhì)量約300mg。用鋼板尺測量試樣面積，用分析天平測量試樣質(zhì)量。
GB/T 10006-1988 塑料薄膜和薄片摩擦系數(shù)測定方法（idt ISO 8295:1986）
薄膜疊層試樣的數(shù)量為四個(gè)，每個(gè)疊層試樣由12層薄膜組成，其制備方法如下：從離膜卷的外表面約0.5mm厚處時(shí)切取。
對未切邊的膜卷，測量點(diǎn)應(yīng)離薄膜邊緣50mm，對已切邊的卷，測量點(diǎn)應(yīng)離薄膜邊緣2mm。取27個(gè)測量值的中值作為試驗(yàn)結(jié)果。
ISO 4591:1992 塑料 薄膜和薄板 以重量分析技術(shù)（重量分析厚度）測定試樣的平均厚度和整卷的平均厚度和量度
GB/T 1409-2006 測定電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法（IEC 60250:1969，MOD）
GB/T 11026.4-1999 確定電氣絕緣材料耐熱性的導(dǎo)則 第4部分：老化烘箱 單室烘箱（idt IEC 60216-4-1:1990）
在測量之前去掉疊層的**外層和**內(nèi)層實(shí)際測量十層，再進(jìn)行測量。結(jié)果疊層試樣測量厚度除以10，得到單層薄膜厚度。
GB/T 10580-2003 固體絕緣材料試驗(yàn)前和試驗(yàn)時(shí)采用的標(biāo)準(zhǔn)條件（IEC 60212:1971，IDT）
ISO 4593:1993 塑料 薄膜和薄板 機(jī)械掃描測定厚度
卷繞性（偏移/弧形或凹陷）原理用于評定成卷供貨的薄膜的變形情況。薄膜的變形可能有兩種形式，它們會(huì)影響以后使用時(shí)的繞包性。
沿樣品縱向取5m使薄膜處于放松狀態(tài)1h后，沿縱向等距離測定寬度五次。記錄每一寬度測定值，取中值作為該卷的寬度。
按本部分第5章規(guī)定測量試樣的密度，結(jié)果每個(gè)測量值的結(jié)果按式（1）計(jì)算：…………（1）
取樣、預(yù)處理?xiàng)l件和試驗(yàn)條件，從薄膜卷上取樣時(shí)，應(yīng)至少先剝?nèi)?*外三層薄膜，取樣時(shí)的環(huán)境條件同試驗(yàn)條件。
GB/T 11026.2-2000 確定電氣絕緣材料耐熱性的導(dǎo)則 部分：試驗(yàn)判斷標(biāo)準(zhǔn)的選擇（idt IEC 60216-2:1990）
GB/T 11026.3-2006 電氣絕緣材料耐熱性 部分：計(jì)算耐熱性特征參數(shù)的規(guī)程（IEC 60216-3:2002，IDT）
用重量法測定卷的平均厚度，原理：按ISO4591:1991中的部分，根據(jù)膜卷的長度、平均寬度和凈重以及薄膜的密度計(jì)算平均厚度。
GB/T 1408.1-2006 絕緣材料電氣強(qiáng)度試驗(yàn)方法 部分：工頻下試驗(yàn)（IEC 60243-1:1998）
橫向厚度分布和縱向厚度變化待定中。密度按GB/T 1033.1-2008的規(guī)定，寬度按ISO4592:1992中部分規(guī)定測定。