X 射線熒光光譜 (XRF) 能夠?qū)Χ喾N材料進(jìn)行元素分析，包括固體、液體和疏松粉末。 Zetium 光譜儀專(zhuān)為滿(mǎn)足要求嚴(yán)苛的流程控制和研發(fā)應(yīng)用需求而設(shè)計(jì)，其高品質(zhì)的設(shè)計(jì)和功能，可對(duì)從鈹?shù)斤训榷喾N元素進(jìn)行精度范圍從百萬(wàn)分之一以下到百分之一的分析。

Zetium 包含了 SumXcore 技術(shù)，它是 WDXRF 和 EDXRF 的集成。 這種功能組合使 Zetium 在多種環(huán)境下?lián)碛懈叻治瞿芰Α⑺俣群腿蝿?wù)靈活性。  

Zetium 配備了我們**版本的 SuperQ 軟件（包括 Virtual Analyst），可幫助非專(zhuān)家用戶(hù)輕松地設(shè)置應(yīng)用程序。 針對(duì)特定分析提供了廣泛的附加軟件模塊，例如無(wú)標(biāo)分析、地質(zhì)痕量元素、潤(rùn)滑油中的基體校正以及薄膜分析。 

針對(duì)特定行業(yè)提供了 Zetium XRF 光譜儀行業(yè)專(zhuān)用版：水泥、礦物、金屬、石化產(chǎn)品以及聚合物和塑料。另外提供可滿(mǎn)足各行業(yè)嚴(yán)苛要求的高配置版本：Zetium**版。 Zetium 平臺(tái)的模塊化設(shè)計(jì)允許通過(guò)各種軟件包來(lái)實(shí)現(xiàn)以任務(wù)為導(dǎo)向的性能增強(qiáng)。 馬爾文帕納科提供了一系列集成解決方案；從連接樣品制備裝置的簡(jiǎn)單接口，到將多個(gè)分析儀器集成到單一容器實(shí)驗(yàn)室中的全自動(dòng)項(xiàng)目。

基本創(chuàng)新

連續(xù)開(kāi)發(fā)、不斷改進(jìn)的客戶(hù)體驗(yàn)

將 SumXcore 技術(shù)（WDXRF與EDXRF 的集成）所帶來(lái)的符合科學(xué)原理的優(yōu)勢(shì)驅(qū)動(dòng)型創(chuàng)新融合到 Zetium 平臺(tái)中，帶來(lái)更高靈活性、高性能和多功能性。

基本情報(bào)

我們的 SuperQ 軟件帶來(lái)了新的技術(shù)組合和分析功能。 以 Virtual Analyst 為例，它優(yōu)化了用戶(hù)在設(shè)置和操作系統(tǒng)方面的體驗(yàn)。

基本支持

無(wú)論在何處，都能獲得信息透明且可靠的支持

從服務(wù)到專(zhuān)業(yè)知識(shí)，從培訓(xùn)到實(shí)驗(yàn)室分析，可為用戶(hù)提供全方位支持。 通過(guò)遍布全球的資深工程師網(wǎng)絡(luò)，馬爾文帕納科隨時(shí)準(zhǔn)備好幫助您滿(mǎn)足分析需求。 

基本技術(shù)

60 年的經(jīng)驗(yàn)和傳承 
Zetium 是 WDXRF 光譜儀（包括 Axios、MagiX 和 PW2400）中的新一代產(chǎn)品。 傳承下來(lái)的成熟技術(shù)經(jīng)過(guò)優(yōu)化和發(fā)展，為 Zetium 平臺(tái)打下了堅(jiān)實(shí)的基礎(chǔ)。

特點(diǎn)

增強(qiáng)的分析性能

• 從 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升級(jí)可增強(qiáng)靈敏度

• 一系列 X 射線光管陽(yáng)極材料（銠、鉻、鉬和金）可確保發(fā)揮特定應(yīng)用性能

• 用于增強(qiáng)靈敏度和加大過(guò)渡金屬分析動(dòng)態(tài)范圍的復(fù)合探測(cè)器

• 用于擴(kuò)大的重元素動(dòng)態(tài)范圍（線性高達(dá) 3.5 Mcps）的 HiPer 閃爍探測(cè)器特別適合對(duì)鋼中的鈮和鉬進(jìn)行高精度分析

出色的用戶(hù)體驗(yàn)

• Virtual Analyst 提供簡(jiǎn)潔、直觀的軟件

• 整套應(yīng)用程序設(shè)置模塊和軟件解決方案

• 使用無(wú)標(biāo) XRF 分析，對(duì)未知材料進(jìn)行分析，或者在沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)的情況下進(jìn)行分析

• 多元素微小區(qū)域分析

• 可編程的面罩，適合的樣品尺寸為 6 mm 至 37 mm

顯著提升樣品處理量

• SumXcore 技術(shù) - 利用 ED core（能譜核）將測(cè)量時(shí)間縮短多達(dá) 50%

• 從 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升級(jí)可加快分析速度

• Hi-Per 通道可實(shí)現(xiàn)對(duì)輕元素的同步測(cè)量

• 連續(xù)和直接進(jìn)樣可大大縮短儀器的進(jìn)樣時(shí)間

• 高容量進(jìn)樣器臺(tái)（*多 209 位）可滿(mǎn)足高處理量應(yīng)用需求

• 進(jìn)樣器條形碼閱讀器選項(xiàng)可實(shí)現(xiàn)快速、無(wú)故障的樣品裝載和數(shù)據(jù)錄入

可靠性

• 除塵設(shè)備可盡量減少污染，并能夠大大提升儀器的正常運(yùn)行時(shí)間

• 用于提高 X 射線管耐用性和耐腐蝕性的 CHI-BLUE X 射線管窗涂層

• 樣品類(lèi)型識(shí)別（固體和液體）

• 條形碼閱讀器可實(shí)現(xiàn)無(wú)差錯(cuò)的樣品數(shù)據(jù)錄入

 儀器的擁有成本低

• 節(jié)省空間的緊湊型設(shè)計(jì) 

• 小體積空氣鎖設(shè)計(jì) - 用于將樣品快速循環(huán)到真空中，或?qū)σ后w分析實(shí)現(xiàn)低氦氣消耗

• 便于檢修的服務(wù)模塊意味著更高的儀器可維修性和更短的停機(jī)時(shí)間

• 專(zhuān)用制冷機(jī)可從實(shí)驗(yàn)室?guī)ё邿崃?- 避免實(shí)驗(yàn)室空調(diào)基礎(chǔ)設(shè)施負(fù)荷過(guò)重

• 可節(jié)省成本的成套解決方案