**電子元器件二次篩選

電子元器件篩選和破壞性物理分析(DPA)是剔除早期失效元器件、及時(shí)發(fā)現(xiàn)假冒翻新元器件的有效手段。

電子元器件篩選是通過一系列短期環(huán)境應(yīng)加速試驗(yàn)及測試技術(shù)，對整批電子元器件進(jìn)行全批次非破壞性試驗(yàn)，挑選出具有特性的合格元器件或判定批次產(chǎn)品是否合格接收，提高產(chǎn)品使用可靠性。

元器件篩選的目的：

1.剔除早起失效產(chǎn)品。

2.提高產(chǎn)品批次使用的可靠性。

元器件篩選的特點(diǎn)：

1.篩選試驗(yàn)為非破壞性試驗(yàn)。

2.不改變元器件固有失效機(jī)理和固有可靠性。

3.對批次產(chǎn)品進(jìn)行*篩選。

4.篩選等級由元器件預(yù)期工作條件和使用壽命決定。

二次篩選測試項(xiàng)目：

1.檢查篩選：顯微鏡檢查、紅外線破壞檢查、

X射線非破壞性檢查。

2.密封性篩選：液浸檢漏、氦質(zhì)譜檢漏、放射性示

蹤檢漏、濕度試驗(yàn)。

3.環(huán)境應(yīng)?篩選：振動(dòng)、沖擊、離?加速度、溫度

沖擊、綜合應(yīng)力。

元器件篩選覆蓋范圍：

元件類：電阻、電容、電感、敏感元件、磁性元件、濾波器、晶體振蕩器。

器件類：光電耦合器、二極管、晶體管、集成電路。

機(jī)電類：繼電器、開關(guān)。

線纜類：連接器、電線電纜。

廣電計(jì)量從1964年開始從事計(jì)量檢定工作，是原信息產(chǎn)業(yè)部電子602計(jì)量站，歷經(jīng)五十余年的技術(shù)沉淀，持續(xù)變革創(chuàng)新，實(shí)現(xiàn)跨越式發(fā)展，成為一家全國性、綜合化、軍民融合的國有第三方計(jì)量檢測機(jī)構(gòu)，專業(yè)提供計(jì)量校準(zhǔn)、產(chǎn)品檢測及認(rèn)證、分析評價(jià)、咨詢培訓(xùn)、檢測裝備及軟件系統(tǒng)研發(fā)等技術(shù)服務(wù)和產(chǎn)品，獲得了CNAS、DILAC、CMA、CATL，以及“**四證”等**和工業(yè)眾多**機(jī)構(gòu)的認(rèn)可資質(zhì)。

我們的設(shè)備能力：

1.老煉需要的設(shè)備：

集成電路高溫動(dòng)態(tài)老煉系統(tǒng)、混合集成電路高溫動(dòng)態(tài)老煉系統(tǒng)

電源模塊高溫老煉檢測系統(tǒng)、分立器件綜合老煉檢測系統(tǒng)

*立器件間歇壽命試驗(yàn)系統(tǒng)、電容器高溫老煉檢測系統(tǒng)

繼電器低電平壽命篩選系統(tǒng)、電容高溫反偏老煉系統(tǒng)

二極管恒流老煉系統(tǒng)。

2.電測試需要的設(shè)備：

阻抗分析儀、高阻計(jì)、耐壓測試儀、半導(dǎo)體參數(shù)分析儀

高精度圖示儀、可編程電源、電子負(fù)載、示波器

頻譜分析儀。

3.目檢、外觀檢查需要設(shè)備：

光學(xué)顯微鏡、金相顯微鏡。

4.理化檢測能力覆蓋：

外觀檢測、內(nèi)部無損檢測、密封性測試、內(nèi)部缺陷測試。

覆蓋標(biāo)準(zhǔn)：

GJB128A-97半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法

GJB 360A-96電子及電氣元件試驗(yàn)方法

GJB 548B-2005微電子器件試驗(yàn)方法和程序

GJB 7243-2011軍電子元器件篩選技術(shù)要求

GJB 40247A-2006軍電子元器件破壞性物理分析方法

QJ 10003—2008進(jìn)口元器件篩選指南

MIL-STD-750D半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法

MIL-STD-883G

依據(jù)各行業(yè)及領(lǐng)域客戶的需求，廣電計(jì)量精心打造出涵蓋計(jì)量校準(zhǔn)、可靠性與環(huán)境試驗(yàn)、電磁兼容檢測、化學(xué)分析、食品農(nóng)產(chǎn)品檢測、環(huán)保檢測、產(chǎn)品認(rèn)證、技術(shù)咨詢與培訓(xùn)、質(zhì)檢?業(yè)信息化系統(tǒng)開發(fā)、測控產(chǎn)品研發(fā)的**計(jì)量檢測技術(shù)服務(wù)和產(chǎn)品，貫穿企業(yè)品質(zhì)管控全過程。

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