德國布魯克 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）可以提供更高的重復性和分辨率，測量重復性可以達到5?。臺階儀這項性能的提高達到了過去四十年Dektak技術(shù)，更加鞏固了其行業(yè)地位。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測量，通過在研究工作中的廣泛使用，DektakXT能夠做到功能更強大，操作更簡易，檢測過程和數(shù)據(jù)采集更完善。第十代DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導體，電池，高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學領(lǐng)域。

臺階儀Dektak XT能實現(xiàn)：

*使用溫度條件：10-30℃；濕度：≤80，無冷凝

*無可匹敵的性能，臺階高度重現(xiàn)性4埃

*Single-arch設(shè)計提供具突破性的掃描穩(wěn)定性

*的“智能電子器件”設(shè)立了新低噪音基準

*新硬件配置使數(shù)據(jù)采集時間縮短40

*64-bit，Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件，使數(shù)據(jù)分析速度提高了10倍

*頻率，操作簡易

*直觀的Vision64用戶界面，操作簡易

*針尖自動校準系統(tǒng)

*布魯克（Bruker）以實惠的配置實現(xiàn)高的性能

*單傳感器設(shè)計，提供單一平面上低作用和寬掃描范圍

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