蔡司X射線顯微鏡采用幾何+光學兩級放大技術，可實現大樣品高分辨率

另外一方面通過光學物鏡和薄的閃爍體耦合技術解決了高襯度成像問題，解決了很多材料樣品尤其大尺度和對襯度要求高樣品成像困難的問題。對樣品尺寸和成像襯度的突破為材料科學研究領域的研究開辟一條新的研究途徑。

新的蔡司X射線顯微鏡三維成像系統改變了傳統微米CT單一幾何投影放大的設計架構，將光學物鏡巧妙的應用到了X射線成像系統中，利用幾何放大和光學放大兩級放大技術進行成像。這樣的全新設計架構一方面解決了傳統工業CT無法實現的大樣品高分辨率成像的問題，使得系統的成像分辨率不像傳統CT一樣局限于非常小的樣品。

薄的閃爍體和光學物鏡耦合技術可提供更高的成像襯度

隨著該設備的普及和應用，蔡司X射線顯微鏡技術為科學研究和工業檢測領域做出了巨大的貢獻。目前該設備已經廣泛的應用在材料學、地球科學、生命科學以及工業和電子半導體檢測領域。

同時使用該設備還產生了大量的科研成果。根據Google Scholar數據統計，使用蔡司X射線顯微鏡在各大國際期刊發表文獻數量呈急速上升趨勢。僅2019年科研人員使用蔡司X射線顯微鏡在國際期刊發表文章達800余篇，其中不乏Nature、Advanced Materials、PNAS等期刊。