金屬表面膜厚不僅僅只是讓金屬外觀令人賞心悅目，更重要的是防銹，防腐蝕。除去外力作用原因，金屬膜厚損壞或不平的很大一部分原因是因為包裝材料厚度不均勻，導致金屬涂層受損，對使用產生影響，而我們卻無法僅憑借肉眼去感知金屬涂層的優劣和效果，這時就需要借助精準的測量儀器—膜厚測試儀（https://www.linshangtech.cn/tech/tech1400.html）來進行準確的測量了。

測量金屬基體表面的涂層厚度建議使用林上LS221膜厚測試儀是相對比較靠譜的，我們知道金屬從大類可以分為兩部分磁性金屬和非磁性金屬。這時就需要選擇磁性測厚法與渦流測厚法測測量原理的膜厚測試儀了，雖然超聲波測量原理的膜厚測試儀也可以用來測量金屬基體表面的涂層厚度，但是測量精度是遠遠沒有磁性法與渦流法測厚儀靠譜的。林上LS221膜厚測試儀是一個不錯的選擇，具體參數如下：

測量原理         Fe：霍爾效應/NFe：電渦流效應

探頭類型         外置連線式

測量范圍         0.0-2000μm

分辨率     0.1μm：(0μm-99.9μm)

1μm：(100μm-999μm)

0.01mm：(1.00mm-2.00mm)

測量精度         ≤±(3%讀數+2μm)

測量間隔         0.5s

測量區域         Ø = 25mm

曲率半徑         凸面：5mm 凹面：25mm

基體厚度         Fe：0.2mm/NFe：0.05mm

供電方式         2節 1.5V **堿性電池

存儲溫度范圍         -20℃～60℃

探頭尺寸         71*26*22 mm

重量(含電池)  114g

膜厚測試儀采用軟芯上繞著線圈的探頭放在被探測物上，儀器自動輸出測試電流或測試信號，早期產品使用指針式表頭，測量感應電動勢的大小，儀器將該信號放大后指示涂層厚度，新型儀器引入穩頻、鎖相、溫度補償等新技術，利用磁阻來調制測量信號，采用集成電路、引入微處理機，使測量精度和重復性有了大幅度的提高。