影響漆膜測厚儀（https://www.linshangtech.cn/applist2/）丈量精度的要素：

1、覆蓋層厚度大于25時,其差錯與覆蓋層厚度近似成正比;

2、基體金屬的電導率對丈量有影響,它與基體金屬資料成分及熱處理方法有關;

3、任何一種測厚儀都要求基體金屬有一個臨界厚度,只有大于這個厚度,丈量才不會受基體金屬厚度的影響;

4、渦流測厚儀對款式測定存在邊際效應,即對靠近款式邊際或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的丈量是不可靠的.

5、試樣的曲率對丈量有影響,這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大;

6、基體金屬和覆蓋層的外表粗糙度影響丈量的精度,粗糙度增大,影響增大;

7、渦流測厚儀對妨礙測頭與覆蓋層外表緊密觸摸的附著物質(zhì)靈敏.因此丈量前應清除測頭和覆蓋層外表的污物;

林上LS221漆膜測厚儀參數(shù)：

丈量原理:Fe：霍爾效應/NFe：電渦流效應

探頭類型:外置連線式

丈量規(guī)模:0.0-2000μm

分辨率:0.1μm：(0μm-99.9μm)

1μm：(100μm-999μm)

0.01mm：(1.00mm-2.00mm)

丈量精度:≤±(3%讀數(shù)+2μm)

單位:μm / mil

丈量距離:0.5s

丈量區(qū)域:Ø = 25mm

曲率半徑:凸面：5mm 凹面：25mm

基體厚度:Fe：0.2mm/NFe：0.05mm

顯現(xiàn):128×48點陣LCD

供電方式:2節(jié) 1.5V **堿性電池

工作溫度規(guī)模:0℃ ～ 50℃

存儲溫度規(guī)模:-20℃～60℃

在使用漆膜測厚儀丈量的時候盡量使用被測資料來作為調(diào)零的基體，以防止因為不同的資料而導致導磁性不同，而出現(xiàn)丈量差錯。等到在被測資料的同一部位調(diào)零今后，再進行相同部位的丈量，如在側(cè)臉工件邊際及中間部分時應當別離調(diào)零。

在使用漆膜測厚儀進行丈量的時候還應當注意探頭和被測料面堅持垂直，避免發(fā)生大的差錯。若是丈量的同一個點，可將探頭每次都離開10公分以上，距離幾秒今后再進行丈量，避免被測資料探頭磁化而影響丈量結(jié)果。

漆膜測厚儀作為調(diào)零用的外表需求盡量堅持潤滑，假如外表不潤滑，應當視狀況取平均值，因為外表粗糙度對丈量的數(shù)值影響較大。結(jié)構(gòu)不同應別離進行調(diào)零丈量，平面調(diào)零側(cè)臉平面，丈量凹面調(diào)零后丈量，丈量凸面調(diào)零后進行丈量，防止因為結(jié)構(gòu)不同而在丈量上發(fā)生差錯。