市面上的鍍層測(cè)厚儀價(jià)格（https://www.linshangtech.cn/product/LS221.html）各不相同，導(dǎo)致產(chǎn)品差異也存在不同差異。以下咱們就林上鍍層測(cè)厚儀做一個(gè)簡(jiǎn)略的介紹。在實(shí)際操作中不僅僅簡(jiǎn)略便利快速，并且呈現(xiàn)出來(lái)的數(shù)值也非常精準(zhǔn)。磁感應(yīng)和電渦流兩種原理是絕大多數(shù)鍍層測(cè)厚儀所應(yīng)用的基本原理，能夠廣泛的丈量各種基材各種性質(zhì)鍍層的厚度。

林上鍍層測(cè)厚儀參數(shù)：

丈量原理：Fe:霍爾效應(yīng) / NFe:電渦流

探頭類型：內(nèi)置一體式

丈量規(guī)模：0.0-2000μm

分辨率：0.1μm:(0μm-99.9μm)

1μm:(100μm-999μm)

0.01mm:(1.00mm-2.00mm)

丈量精度：≤±(3%讀數(shù)+2μm)

單位：μm / mil

丈量間隔：0.5s

丈量區(qū)域：Ø = 25mm

曲率半徑：凸面:5mm/凹面:25mm

基體厚度：Fe:0.2mm/NFe:0.05mm

顯現(xiàn)：128×48點(diǎn)陣LCD

供電辦法：2節(jié) 1.5V **堿性電池

工作溫度規(guī)模：0℃-50℃

存儲(chǔ)溫度規(guī)模：-20℃-60℃

主機(jī)尺寸：101*62*28 mm

分量(含電池)：79g

鍍層測(cè)厚儀在不同環(huán)境下影響要素

（1）選用磁性法測(cè)厚時(shí)會(huì)受基體金屬磁性變化的影響

（2）基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)丈量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理辦法有關(guān)。

（3）鍍層測(cè)厚儀有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，丈量就不受基體金屬厚度的影響。

（4）鍍層測(cè)厚儀對(duì)試件外表形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊際或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行丈量是不可靠的。   

（5）待測(cè)物品的曲率對(duì)丈量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的削減顯著增大。因此，在曲折試件的外表上丈量鍍膜厚度是不可靠的。

2.丈量物品差異影響要素

外表粗糙度基體金屬和覆蓋層的外表粗糙程度對(duì)丈量有影響。粗糙程度增大，影響增大。