手機(jī)測(cè)試白卡

手機(jī)測(cè)試白卡手機(jī)測(cè)試卡是智能卡的一種，屬于智能卡范疇，其定義是相對(duì)于測(cè)試卡而言的，通常也叫做白卡。也稱手機(jī)測(cè)試白卡、測(cè)試白卡，廣泛應(yīng)用于通訊工業(yè)生產(chǎn)、測(cè)試過程中的使用。配合綜合測(cè)試儀（安捷倫8960、、CMU200、CMW500等）對(duì)手機(jī)進(jìn)行無干擾綜合測(cè)試；手機(jī)在生產(chǎn)中進(jìn)行相關(guān)測(cè)試，需要屏蔽外界不良信號(hào)電波干憂，手機(jī)測(cè)試卡可以對(duì)外界信號(hào)實(shí)現(xiàn)信號(hào)至儀器到手機(jī)的路徑 。讓測(cè)試環(huán)境更加簡潔，從而達(dá)到測(cè)試的理想效果。主要測(cè)試的功能有測(cè)試顯示,手機(jī)處理器,調(diào)解器版本,顯示話音加密碼,還原通話時(shí)間 ，可進(jìn)行偶合測(cè)試，誤碼率測(cè)試等，現(xiàn)在主要測(cè)試卡有移動(dòng)的GSM、TD-SCDMA,聯(lián)通的WCDMA、電信的CDMA、CDMA2000等網(wǎng)絡(luò)測(cè)試卡。其內(nèi)存大小常用的有32K/64K/128K,測(cè)試卡還可以根據(jù)不同客戶訂做不同的個(gè)性化測(cè)試。

GSM手機(jī)測(cè)試白卡 供手機(jī)廠手機(jī)出廠測(cè)試，用于測(cè)試顯示，手機(jī)處理器，調(diào)解器版本，顯示話音加密碼，還原通話時(shí)間等。如有特殊要求，可提供參數(shù)或來樣定制。micro測(cè)試卡，nano測(cè)試卡 。

CDMA手機(jī)測(cè)試卡 供手機(jī)廠手機(jī)出廠測(cè)試，用于C網(wǎng)測(cè)試顯示，手機(jī)處理器，調(diào)解器版本，顯示話音加密碼，還原通話時(shí)間等。如有特殊要求，可提供參數(shù)或來樣定制。

WCDMA 3G手機(jī)測(cè)試卡 micro，nano測(cè)試卡 3G手機(jī)出廠測(cè)試必備。必須通過儀器測(cè)試，且分哪種儀器上測(cè)試，一般有三種儀器安捷倫（8960），羅德與施瓦茨（CMU200），如有特殊要求，可提供參數(shù)或來樣定制。

4G測(cè)試卡 LTE（CMW5000）手機(jī)測(cè)試卡 micro，nano測(cè)試卡 供手機(jī)出廠測(cè)試，用于測(cè)試顯示，手機(jī)處理器，調(diào)解器版本，顯示語音加密碼，還原通話時(shí)間等。如有特殊要求，可提供參數(shù)或來樣定制。

5G手機(jī)測(cè)試白卡(又稱白卡)，使用于5G通訊工業(yè)生產(chǎn)的信號(hào)測(cè)試。常用于5G網(wǎng)絡(luò)配合綜合測(cè)試儀以及自己搭建的網(wǎng)絡(luò)對(duì)手機(jī)及終端進(jìn)行無干擾綜合測(cè)試；手機(jī)及5G終端在生產(chǎn)中需要對(duì)成品進(jìn)行相關(guān)信號(hào)測(cè)試，卻要進(jìn)行大規(guī)模屏敝，需動(dòng)用更多的人力物力及測(cè)試時(shí)間，使生產(chǎn)工藝繁雜及成本增加，測(cè)試卡可以實(shí)現(xiàn)信號(hào)至儀器到手機(jī)的路徑，讓測(cè)試環(huán)境更加簡潔，很好的解決了這一繁鎖問題。5G測(cè)試白卡可進(jìn)行偶合測(cè)試，誤碼率測(cè)試、具有齊備的VCC和RSTB，可用于終端和綜測(cè)儀測(cè)試等

產(chǎn)品品質(zhì)**：

我們公司的5G手機(jī)測(cè)試白卡采用國際半導(dǎo)體廠商生產(chǎn)的芯片，3V/5V兼容5-6觸點(diǎn)兼容設(shè)計(jì)，適合一切手機(jī).、配以COS系統(tǒng)，全面遵從5G對(duì)手機(jī)，測(cè)試卡的各項(xiàng)規(guī)范特殊的半導(dǎo)體硅襯，**卡片可以承受10牛頓每平方米的壓力。（GSM標(biāo)準(zhǔn)為4牛頓每平方米）適合工業(yè)化生產(chǎn)線使用，采用超長壽命EEPROM，**讀寫次數(shù)在10萬次以上。（4G標(biāo)準(zhǔn)只要求3萬次，按一般生產(chǎn)線測(cè)量要求，每部手機(jī)的讀寫次數(shù)為10次，可測(cè)一萬部手機(jī)。），芯片保護(hù)層，**卡片安全，防電子攻擊。耐壓6.5V以上特殊卡片涂層，抗靜電（ESD），防水（48小時(shí)浸泡試驗(yàn)）特殊卡體材料（ABS混合高溫PVC），耐高溫，45度可正常工作4小時(shí)以上。75度溫度沖擊試驗(yàn).

我公司產(chǎn)品經(jīng)國家集成電路卡注冊(cè)中心授權(quán)使用進(jìn)口三星等若干芯片[授權(quán)范圍：S3C89K8(KS88C92008)S3xC9xx帶觸點(diǎn)IC卡芯片系列]。所有測(cè)試智能卡的物理特性、耐化學(xué)性、觸點(diǎn)電特性均已通過國家電子計(jì)算機(jī)質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心及信息產(chǎn)業(yè)部IC卡質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)中心檢驗(yàn)合格，具有**性的品質(zhì)**。